SUNX區(qū)域傳感器資料，BFV00074

般通過延長受光部分與受光元件(CMOS)之間的光路長度，

從而可獲得精度更高、更穩(wěn)定的測量值，但是另方面，

傳感器的進(jìn)深方向會變長，機(jī)身形狀也會變大。

HG-C系列設(shè)計(jì)出內(nèi)部安裝有反射鏡的新型光學(xué)系統(tǒng)，

并縮短進(jìn)深方向的尺寸，同時(shí)又可實(shí)現(xiàn)與變位傳感器相媲美的高精度測量。

采用同時(shí)兼顧輕量與強(qiáng)度的鋁鑄外殼。

雖然尺寸小巧，但是機(jī)身堅(jiān)固，

從而減少外殼變形和溫度等不穩(wěn)定因素對測量精度所產(chǎn)生的影響。

采用位移傳感器所使用的高精度CMOS影像傳感器，

以及位移傳感器直使用的本公司*的算法，

使距離設(shè)定反射型傳感器實(shí)現(xiàn)的高精度（1/100mm）。

存在檢測物體的狀態(tài)下，只需按下 “TEACH”鍵，即可簡單地設(shè)定基準(zhǔn)值。 

另外，在2個(gè)基準(zhǔn)值范圍內(nèi)即判為OK，超出范圍即判為NG，1個(gè)輸出即可做出判定。

針對與檢測物體基準(zhǔn)面之間的距離，設(shè)置上限值和下限值，

想要通過上下限的范圍 進(jìn)行判別時(shí)，使用該方式。

執(zhí)行3點(diǎn)(檢測物體A、B、C)教導(dǎo)時(shí)，

教導(dǎo)值將會自動按照升序(教導(dǎo)值1、2、3)重新排列數(shù)值，

在教導(dǎo)值1與教導(dǎo)值2之間設(shè)定基準(zhǔn)值，

并在教導(dǎo)值2與教導(dǎo)值3之間設(shè)定基準(zhǔn)值，從而設(shè)定基準(zhǔn)值范圍。

除教導(dǎo)&窗口比較模式外，還配備有[上升沿微分模式]、

[下降沿微分模式]以及[通常檢測模式]。

在通常檢測模式下，可使用基本教導(dǎo)方法中的“2點(diǎn)教導(dǎo)”，

存在微小物體和背景物體的情況下，還可使用便捷的[限位教導(dǎo)]。

該功能可使測量值 “調(diào)零”。可任意決定零點(diǎn)。

以檢測物體的高度為基準(zhǔn)值，測量其公差的情況下，

或者測量段差時(shí)，可方便地使用該功能。

調(diào)零功能時(shí)，調(diào)零指示燈(黃色)將會點(diǎn)亮。

峰值·谷值保持功能時(shí)，如執(zhí)行調(diào)零功能，則會使所保持的測量值復(fù)位。

顯示設(shè)定設(shè)為偏移時(shí)，將無法設(shè)置調(diào)零功能。

可從以下4個(gè)功能中選擇1個(gè)分配到外部輸入線：

“調(diào)零功能”、“教導(dǎo)功能”、“停止投光功能”、“觸發(fā)功能”。

相對于檢測物體的移動方向，可選擇以下三種顯示方法 ：“通常”、“反轉(zhuǎn)”、“偏移”。

配備有峰值保持功能或者谷值保持功能。

峰值保持功能：該功能時(shí)，將會保持測量值的大值，顯示并輸出保持值。

谷值保持功能：該功能時(shí)，將會保持測量值的小值，顯示并輸出保持值。

SUNX區(qū)域傳感器資料，BFV00074